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请教:依据GB/T17626-5 2008最新标准,主板网口该如何测试?

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发表于 2008-12-9 16:08:41 | 显示全部楼层 |阅读模式

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  GB/T17626-5 2008的改动比较大,可是大家理解的又千差万别,所以在这想请教大虾依据最新的标准PC的主板网口和原来的测试有什么区别?
发表于 2008-12-10 16:49:35 | 显示全部楼层
网络端口的测试主要要按照GB/T17626-5 2008最新标准的第14页图14来做,浪涌脉冲需要同时注入到4根线(10MHz/100MHz 网络)或8根线(千兆以太网)中,其中很重要的是等效阻抗RM2的阻值。
按照此标准规定,对于10/700us电信波测试,各个RM2最后并联的等效阻抗为25欧姆,可见,4根线的每个RM2=100欧姆, 8根线的每个RM2=200欧姆。
需要注意的是,ITU联盟对于RM2的定义有所不同,它定义的RM2是每根线上的阻抗25欧姆,所以实际上,4根线路的等效阻抗为25/4=6.25欧姆,8根线为25/8=3.125欧姆. 可见,ITU规定的测试严酷程度要比IEC定义的高了几倍,因为脉冲的电流大了很多。
去耦网络对与高速网络信号的通路是有阻碍作用的,所以标准中规定,可以在不EUT和AE端不通信的情况下进行测试,测试完毕后再直接连接以检查产品性能。在新标准的图15显示了1.2/50us脉冲加到对称高速通讯线的耦合去耦网络示意图,但是很遗憾没有10/700us的。
关于10/700us可以直接通信的耦合去耦网络,ITU K.44标准里给出了定义,去耦是采用200欧姆电阻。可以不阻挡EUT端和AE端的通信。目前某些知名仪器供应商已经在考虑按照此要求来做高速通讯线路的耦合去耦网络。相信在不久的将来此问题能顺利解决。

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