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TDR测量阻抗的一点疑惑,怀疑测试仪器的测试原理有缺陷。

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发表于 2009-6-12 10:14:07 | 显示全部楼层 |阅读模式

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  在PCB的一条微带线的中间加上不同阻值的贴片电阻,然后用时域反射仪进行测试该条微带线的阻抗,发现测试显示的阻抗曲线变成了前低后高两段,中间有一个台阶状突变.这种现象无法用时域反射仪的理论来解释.不知道这是不是时域反射仪的一个测试的局限.或者说时域反射仪的测试理论根本就是有很大缺陷的?

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