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如何顺利通过快速群脉冲测试?

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发表于 2009-3-18 14:07:18 | 显示全部楼层 |阅读模式

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  我使用AD芯片测试三相四线的电压、电流量,在快速群脉冲测试(4000V,2.5khz)中AD芯片会被打死,而且复位该芯片也无效。前端进来的电压电流两端都并接了压敏电阻(14K681)和安规电容(X1 222M),后来有自绕了电感(在磁环上)串接在输入端上,还是不行。浪涌实验是过了。请教高手问题出在哪里?
发表于 2009-3-18 15:29:25 | 显示全部楼层
结构布局有可能也有问题。造成打进去的干扰串扰到芯片的可能性也是可能有的。
发表于 2009-3-19 08:43:01 | 显示全部楼层
脉冲群是相对来说比较高频的信号,但是能量比较低。XY电容一般作用不会很明显,Varistor也很难起作用,磁环倒是会有一些作用,这个要看你怎么样放置和用得什么磁环。

像楼上说的一样,调整一下结构应该会有帮助。IC的进线端可以考虑用容值比较小高频特性好的的电容做一些处理。
发表于 2009-3-19 11:35:16 | 显示全部楼层
看看是否经过滤波以后又与滤波之前的电路有耦合,自绕电感你是怎样绕的啊?共模哦,试试不同值。
发表于 2009-3-20 15:20:57 | 显示全部楼层
找到一个我们公司期刊上的。拷不下文字。剪个图片。主要就这些方法了。

脉冲群

脉冲群

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