看看这个USB设计是不是电感位置有点问题？（附图）

redline

系统主要表现是在ESD测试时，USB表现很弱（主要是暂停工作），甚至有被打坏的情况出现。而且，即使在做间接放电时，也出现USB暂停工作的现象。

设计时在USB端口已经做了很多工作，包括加ESD suppressor， 共模抑制电感，信号地和面板（接大地）之间加电容等。

USB是直接由南桥芯片控制的，也就是USB信号线直接接到南桥芯片。既然有USB端口被打坏，估计很有可能USB信号线上有干扰。

检查了PCB 布线，发现离USB信号线不远的上方有个1.5uF的电感。这个电感虽然离面板很远，但是中间隔有CF卡，CF卡架子周围是金属，这样无形缩短了电感和面板之间的耦合路径。关于这个设计，请看图所示。

进一步说明一下。电感处于顶层，USB信号线布在第四层，第三层为电源层。电源层的分隔离USB信号线很近，估计这也是一个弱点。

我也只是猜测，希望大家能给个意见。谢谢先。

amo

要泄放掉呀！！

redline

引用第1楼amo于2009-10-01 12:59发表的“”:
要泄放掉呀！！

不是太懂，能不能具体解释一下，谢谢了。

titan

最简单的方法，用弹片下到外壳。usb正下方的地，2颗就ok。

redline

引用第3楼titan于2009-10-01 21:44发表的“”:
最简单的方法，用弹片下到外壳。usb正下方的地，2颗就ok。

不好意思，不懂。弹片下到外壳，是不是指信号地和外壳的接触。信号地和外壳之间加了0.01uF（也曾经直接连接，或是加其它一些器件，效果都不是太好）。而USB端口外壳和面板之间也加了金属海绵，来增加之间的接触。

从已经做的实验来说，我怀疑还是USB信号线受到了干扰。这些线直接接到南桥芯片，因此不但有可能USB停止工作，甚至会直接损坏南桥芯片。

我现在怀疑静电场耦合到电感，然后再影响不远的USB信号线。当然，也可能是其它的受到干扰。

kany9999

静电过成中会使CF卡金属架不断累计电荷，直到击穿到附近金属或元件（USB壳除外），这个电压强度很可能很高，只能简单的这么描述，过程其实很复杂，你找找相关资料吧
除了USB间断  没其他现象吗？ 未必只是USB间断吧
检查你的机壳地和电源地是否低阻抗，USB是否割地，USB地与机壳地是否低阻抗
用宽点的铝箔直接把CF壳搭地，看看效果
USB壳直接搭机壳地，再看看
另外你说 间接放电也间断 ，解这个问题 都是 加接地屏蔽壳 和 拉开主板与耦合板距离，从板上来解能搞死人啊
补充一下：CF壳没接地，CE壳与USB壳间距3mm    这个设计就有问题啊！