CMU使用之一 信令模式与非信令模式

wailand

  手机校准和测试的两种模式 signaling test mode 和non signaling test mode
现在手机校准和测试有两种模式：
（1）signaling test mode
（2）non signaling test mode
两种模式的区别：
signaling test mode
signaling mode ：信令模式就是使用CMU200或8960模拟基站，和手机建立起链接，仪表发出各种信令，手机此时相当于连上了网络。
1）手机此时既要发射信号，又要接收来自仪表的各种信令，这种方式一般用于Final TEST。
2）信令模式某种程度上可以说完全模拟了手机和基站注册、寻呼、以及MOC、MOT（发收信息）的呼叫过程以及通话过程。
3）当然，这种和仪器建立的通信还是和真正的通信是有区别的，为了测试的需要，比如测试BER，又是需要手机环回（loop back）基站发出的数据，这在实际通信中是没有用的。
（2）non signaling test mode
理解之一：非信令模式，仪表此时并不发出信令去控制手机，或者仪表只是发射，手机接收；或者仪表只是接收，手机发射。当然为了支持这个模式，手机需要进入一种特殊的模式，能够支持只发，或只收。非信令模式主要用来手机校准或手机研发中故障定位等。比如排除接收的故障，单独看发射时是不是好的。
理解之二：仪表此时仅仅用作测量手机的射频指标，并不发出信令去控制手机，手机此时只处于发射状态，结合搜通路一般是关闭的。8960叫TEST模式，这种模式一般用于Calibration。因为手机在校准时要向Flash 写入各种参数，除了RSSI外，主要是发射的参数。此时是无法测量frequency error，RX LEVEL，BER的。
总而言之，对手机而言，信令模式下手机既要发射信号，又要接收信号。非信令模式下手机仅仅处于发射状态。信令模式和非信令模式都可以用来测试RF指标，比如Phase Error、Frequency Error、Power/Time Template、Spectrum等，但是非信令莫斯不能测试BER，因为不能环回数据。
测量功率,频谱,误码率:
其实综测仪使用最重要的一步就是连机,要是连上了,其它的测量好说,看一下英文中文说明就可以了.
以CMU200 为例,说明一下测功率:
第一步,打开综测仪,调到信令模式下,利用维修软件拔打112,连接上了,会调出另一个画面,按下MENUS(菜单)-&gtOWER(功率)->Application(应用)->p/PLC(功率/功率等级),则可以查看所有信道的功率了
测频谱:
按下MENUS(菜单)->Spectrum(频谱)->application(应用)->switch&Modulation(开关谱与调制谱)
测误码率:
按下MENUS(菜单)->ReceiverQuality(接收质量)->BERAverage(平均误码率)

以8960为例,讲一下测试方法:
8960联机与CMU200有点不一样,因为8960没有信令模式,操作界面不完全一样,联机前先按下SHIFT-&gtRESET->BCH->CellPower设置为-60,连接射频口等一会,手机信号将会慢慢减小,等一会儿会出现Attached (已连接),手机就跟综测仪完成注册过程,IMEI,IMSI被读出来按一下ORIGIN CALL,或是拔打112,马上就连接上了.

测量功率,相位与频率误差,频谱:
测量功率:按下Measurement selection(测量项目选择键)->Transmit Power
测量相位与频率误差:按下Measurement selection(测量项目选择键)-&gthase & Frequency Error(相位与频率误差测)->Phase & Freq. Setup (相位与频率设置)-Change View(更改视图)->graph(图形显示)
频谱:按下Measurement selection(测量项目选择键)->Output RF Spectrum(输出谱图)->Change View (更改视图)->graph(图形显示)   OK!!!!

展讯的机和小S的机的测法
用展讯M平台CPU的机,用手机软件MOBILE_TESTER拔112很容易就可以连接上,一般CMU200的射频口可以接收到手机发射的信号,屏幕上也有显示,而8960就不可以,若然怀疑手机软件出错,可以使用手动拔号或软件拔号的方法来排除故障,小S的CPU可以使用WINDOWS自带的超级终端来进行连接,打开终端,利用命令拔号:ATD112; 读SN号:AT+WTSN; 挂断ATH; 查询IMEI号码，*#06#。
手机的非信令测试，顾名思义，就是在手机和测试仪器（模拟基站，如CMU200/8960）没有信令交互的情况下对手机进行射频测试。其出现的原因在于现在的手机所需支持的频段的增多和制式的增多，导致在生产测试中单部手机测试时间过长，从而影响手机的产量。而在信令下测试，手机注册和呼叫的时间都是比较长的，但又是不可避免的，因此出现的非信令测试。也就是说手机的非信令测试主要目的是为了满足生产的需求的。
最初的手机非信令测试是名副其实的非信令测试，当我们测试手机的发射机时，通过PC控制手机（也能能是上网卡，通信模块，以后统称DUT）在相应频点，发射出相应功率的信号，然后使用测试仪器测试其相应频点的功率、调制、频谱或码域等指标；而当我们需要测试DUT的接收机时，则利用测试仪器在相应频点以相应的功率发出已知序列的调制信号，然后利用PC控制手机在相应频点进行接收解调，通过对比比特流或计算CRC，算出相应的BER或BLER。这种方法和校准时非常类似的，现在通常被称为单端非信令测试。
当时上述非信令测试并没有被广泛接收，原因在于其测试时，DUT所处的状态与信令测试所处的状态不同，其中最显著的不同就是在上述模式下，DUT是出于单发或单收的状态；而在信令模式下，DUT测试收发同时工作的（虽然GSM的收和发不是同时的，但其在一个TDMA中也一次开关切换的）。因此后来又提出一种还回的非信令测试，也就是说在测试仪器和DUT均需进入特殊的还回模式，在这种模式下，测试仪器和DUT有一定测信令交互，并且DUT可以把接收到的数据还回给测试仪器，直接有测试仪器计算出BER/BLER，进行接收机测试；并且测试仪器可以通过信令，调整DUT的发射功率（比如用于WCDMA的内环测试）等。因此这种方法更接近于传统的信令测试，与其最大的不同在于其省掉了注册和呼叫的过程，而在其之后，DUT的状态在两种模式下市完全一致的，因此更接近实际；同时，它又大大缩短了测试时间，因此，它将是移动通信终端生产测试的主流（已经是了）。