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RE测试系统低频区域波形偏差的来源

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发表于 2013-2-7 19:21:12 | 显示全部楼层 |阅读模式

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  我们EMC实验室有两套测试系统,一套是R&S的, 一套是YOTO的.
用这两套系统测试同样的手机的RE, 在30~50MHz的低频区域, R&S系统的波形要比YOTO系统的波形高出约5dB. 请问大侠们这个偏差是怎么产生的, 与什么因素有关???? [s:15]
发表于 2013-2-8 11:30:52 | 显示全部楼层
這種問題該如何回答ㄝ............. [s:15]  [s:15]  [s:15]

[s:23]  [s:23]  [s:23]  [s:23]  [s:23]
发表于 2013-2-17 23:29:08 | 显示全部楼层
天线修正因子与线损是否一样呢?最好用梳状信号源确认一下
 楼主| 发表于 2013-2-20 14:00:34 | 显示全部楼层
引用第2楼wangguinian2013-02-17 23:29发表的“”:
天线修正因子与线损是否一样呢?最好用梳状信号源确认一下

这是个好方法, 应该用梳状信号源测试一下两个系统再无DUT情况下的各个频率的偏差..
大侠厉害!!
[s:9]
发表于 2013-2-20 16:30:46 | 显示全部楼层
这两套测试系统的区别在哪里,楼主都没说清楚,如果只是仪器不同的话,比较简单,因为仪器的带宽和精确度的问题,我也有试过一套系统用两个接收机测试,结果是有差别的。

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