问个半导体的问题

okman · 发表于 2007-4-2 14:46:00

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  大虾们好

  半导体也要做一些测试,会涉及到1.2/50  8/20  CWG等波形,这应该是属于EMC中的边缘测试.
     他们和EMC的测试有没有什么不同,怎么把波行加上去?和EMC有什么区别?

chenchen · 发表于 2007-4-2 15:26:26

你说的是不是执行IEC60065的标准《元器件安全性能测试》,这样的测试主要是在产品的离线状态下做的!

okman · 发表于 2007-4-2 17:20:44

对半导体做测试,有时候要直接加到元件上面,元件很小怎么办啊?
可以自己做一个治具吗?

xzxi · 发表于 2007-4-2 17:31:45

1.2/50us,8/20us指的是经典的EMC测试项目：浪涌抗干扰测试(Surge immunity),以检验产品在遭受瞬态大能量干扰的耐受性。
波形的处理简单，触发浪涌发生器然后通过耦合/去耦网络叠加在DUT的工作信号上。

chenchen · 发表于 2007-4-3 08:40:58

3楼,这样经典的波形应该是针对电源端口做的吧!

chenchen · 发表于 2007-4-3 09:09:12

如果不通过耦合去耦网络来做, 应该是可以完成这样的试验的! 但是我们习惯把它叫作冲击电流试验!

xzxi · 发表于 2007-4-3 10:50:38

Surge测试是可以叫做冲击电流测试的，浪涌抗扰测试可以分为浪涌电压抗扰和浪涌电流抗扰。
1.2/50us开路电压和8/20us短路电流指的是同一个发生波的两个波形参数，这两个波形参数应适用于波形发生器经耦合网络后的输出端子。
所需要的仪器首先是一台波形发生器，用来产生试验所需要的干扰波形；耦合/去耦网络，确保所需要的干扰能准确地导入DUT端子同时避免其他不必要的干扰状况。
该耦合/去耦网络针对不同的端子有不同的类型，对电源端子可以直接注入，对I/O端子可以采用电容耦合或者气体放电管放电。

okman · 发表于 2007-4-3 10:58:24

谢谢大家了
不过大家说的都是一些产品,我想知道如果对一个二极管做冲击电流和耐压测试,应该怎么做?
我有可以针对产品做SURGE的仪器,现在可不可以用这个仪器直接对二极管做.这样可能就不需要藕合网络了,输出直接加到元件两端.

xzxi · 发表于 2007-4-4 12:34:58

我没做过，不好意思。也不太明白为什么要对二极管做浪涌测试。
二极管的反向特性本就是可以用来做浪涌钳位的，你这个测试可能是专门对二极管的功能测试吧。

okman · 发表于 2007-4-4 15:10:12

那对于其他的半导体元件呢,我想知道是怎么把波形加到元件上的,用不用什么特殊的仪器?
如果没有特殊的仪器我把元件需测试的端口加长,再用发声器打到上面可以吗?

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