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发表于 2008-4-11 04:27:55
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引用第4楼emcr于2008-04-09 20:37发表的“”:
真是精彩!不知能否再解释下为什么要在30MHz之前和之后分别做DBCI和CBCI呢?和驻波叠加有没有关系?非常感谢
RI Bulk Current Injection " rocedure"
Only 150mm and 450mm injection probe positions when performing DBCI.
Only 450mm and 750mm injection probe positions when performing CBCI.
Sensoren nur mit CBCI testen
上面这段话是在GMW3097描述的
这个问题我以前也困惑过.
问:客户为什么要这样做?
答:因为客户愿意!(这样回答真的很无厘头)
我询问过很多德国的资深EMC工程师,大致告诉我的意思就是,GM定这样的Test Spec是根据他们的经验,是以往项目中的积累,他们知道一般情况下在30MHz以下,用DBCI的方法实验更加严格.
我个人觉得DBCI针对差模干扰,CBCI针对共模干扰,因为客户大概了解自己的系统,选择了最适合的最苛刻的方式.
在一个GMW3097的补充文件中还看到这样一段话:
BCI: Eliminate DBCI for sensors(针对传感器只做CBCI)
DBCI introduced because of RF-induced ground offsets between device/load rounds, but this scenario is not applicable for regulated supply voltage-fed sensors, where the sensor ground is returned to the supply source and not through chassis ground.
希望哪位达人能对DBCI和CBCI做一个详细描述,觉得只有彻底了解这两种方法,才能真正明白这样做的道理.
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