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发表于 2008-4-11 04:27:55
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引用第4楼emcr于2008-04-09 20:37发表的“”:
真是精彩!不知能否再解释下为什么要在30MHz之前和之后分别做DBCI和CBCI呢?和驻波叠加有没有关系?非常感谢
RI Bulk Current Injection "rocedure"
Only 150mm and 450mm injection probe positions when performing DBCI.
Only 450mm and 750mm injection probe positions when performing CBCI.
Sensoren nur mit CBCI testen
上面这段话是在GMW3097描述的
这个问题我以前也困惑过.
问:客户为什么要这样做?
答:因为客户愿意!(这样回答真的很无厘头)
我询问过很多德国的资深EMC工程师,大致告诉我的意思就是,GM定这样的Test Spec是根据他们的经验,是以往项目中的积累,他们知道一般情况下在30MHz以下,用DBCI的方法实验更加严格.
我个人觉得DBCI针对差模干扰,CBCI针对共模干扰,因为客户大概了解自己的系统,选择了最适合的最苛刻的方式.
在一个GMW3097的补充文件中还看到这样一段话:
BCI: Eliminate DBCI for sensors(针对传感器只做CBCI)
DBCI introduced because of RF-induced ground offsets between device/load rounds, but this scenario is not applicable for regulated supply voltage-fed sensors, where the sensor ground is returned to the supply source and not through chassis ground.
希望哪位达人能对DBCI和CBCI做一个详细描述,觉得只有彻底了解这两种方法,才能真正明白这样做的道理.
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