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如何查找 ESD 问题点

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发表于 2007-12-10 15:35:26 | 显示全部楼层 |阅读模式

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  各位前辈大家好,最近在测试 我们公司的机器时,8KV 空气放电不能通过。但是出现这种问题,但是出现这种现象,不知从何下手,如何发现问题出现在哪里。请各位高手指教,谢谢!
发表于 2007-12-10 19:54:23 | 显示全部楼层
要学会分析呀。

那个放电点 出问题的 就从那个地方着手分析。

之所以出问题,肯定是静电打进去了。所以你最简单的办法  就是不让静电打到你板子上去,放不了电,你就安全了。这是最简单的。

剩下的  就要看影响那个电路了,然后加保护器件。
 楼主| 发表于 2007-12-12 16:49:34 | 显示全部楼层
谢谢前辈,你说的很有道理, 我的几个机子出现问题的地方都不一样,也不稳定。敢问哪里可以找到这方面的资料,是我学习一下,有些现象。都表达不清楚
发表于 2007-12-14 09:05:45 | 显示全部楼层
·    产品的机械结构设计必须防止ESD直接放电至印制信号线, 如ESD空气放电是通过绝缘击穿放电造成的,击穿过程中,ESD会通过各种各样的途径自动找到设备的最近的放电点,形成特定的空气放电。因此,对于非金属外壳的产品或浮地产品,首先应该考虑,产品的可接触表面与产品内部的任何金属体之间具有足够的爬电距离(金属体可接触表面之间沿绝缘体表面的最短距离),确保电子产品的可接触表面与下列各项之间的路径具有足够的长度,如6mm,可以承受±8kV的空气放电,10mm可以承受±15kV的空气放电。
如果不能做到这一点 就必须给出足够的理由,并记下这个风险点。
·    指出需要进行ESD测试的连接器(通常那些产品应用者接触不到或只有维修人员才能接触到的连接器才不需要进行ESD测试,并且这些信息应该在产品说明书中进行说明) 。需要进行ESD测试的金属连接器必须进行接地(浮地产品接GND)处理,非金属连接器的表面到内部任何金属体之间必须有足够的爬电距离。
如果不能做到这一点 就必须给出足够的理由,并记下这个风险点。
·    扁平电缆的处理。
ESD放电过程中伴随着一个频率范围在1MHz到500MHz的强磁场,并会感性耦合到临近的每一个布线环路,扁平电缆通常存在较大的信号环路,因此必须采用一定的防止ESD措施,常用措施有:
  ---对扁平电缆的所有信号进行滤波
  ---将电缆屏蔽;
  ---避免电缆暴露在ESD放电产生的强磁场中.
如果不能做到这一点 就必须给出足够的理由,并记下这个风险点。

以上几点仅从产品构架上考虑,电路方面的设计与其它高频的EMC设计并不矛盾
发表于 2007-12-14 16:18:03 | 显示全部楼层
ESD的问题其实是好解决的.先看ESD引起干扰的因素,一个是脉冲电流/电压,还有就是宽带电磁场干扰,频率可以从几K到1G差不多(我是看了很多资料都这样的,我个人认为是几K到7/8百兆),如果是电流/电压干扰是有静电能量耦合到了EUT里面,破坏了里面的功能电路的正常工作,比如说反馈电路,信号采样电路,还有芯片本身是很容易干扰的,比如RESET FB CS 和DATA ADDRESS的传输线,所以在电路设计中就要对这些作好保护,常规的TVS,VARISTOR,电容,稳压管,FILTER等等,看需要选用.这些元件在我做ESD方案中都用过,但是要看具体情况,不是都可以用电容或着TVS的.最省成本的方法是在机构设计的时候下工夫,多设计几道槛或者做些挡的部分,然后紧密一点,这点其实跟静电通道的形成有关系,关于这个部分我以后会讲.这里就不多说了.接地是必要的,但不是必须的,就看你怎么理解ESD的问题.如果把脉冲电压或者电流能够削平了那么也就不回有问题了,如何削平还要多多思考,不是一句话可一说明白的,我只提供重点的信息.如果你对这个有兴趣或者引起你足够思考,那我说的已经足够你解决ESD 的问题.
还有ESD产生的电磁波一个是屏蔽,二是滤波,其实手段就这些,关键是看怎么去运用了.
找问题当然是要在你出问题的测试点去找了,看测试点有什么不足的地方了.AMO已经说了,我就不说了
发表于 2007-12-27 10:51:05 | 显示全部楼层
我觉得测试结果不稳定,首先要确定测试方法是正确的,对同一个放电点,正负电压各10次,统计这10次出现的故障。如果确实有问题的话就要观注电是从哪里打进去了,再着手处理,比如换个ESD电压更高的防护TVS、外壳接地、检查搭接等等。具体的可以看这篇文章:《电子产品的静电放电对策及设计要点》,是赛宝一个高工写的。本想上传上来,可惜是新人,上传不了。你上网搜一下,应该能下载到的。
发表于 2008-1-10 14:15:40 | 显示全部楼层
我也觉得用TVS好,简单方便,有点做广告的嫌疑了.不过我们几个客户确实使用,我们的TVS简单的解决了,EMC的8KV和16可v的(10/700)浪涌问题.当然,如何选择什么型号的TVS器件,就要稍微学习一下.如果不清楚,我可以把偶知道的,无私奉献.
发表于 2008-6-13 15:55:02 | 显示全部楼层
学习了,我们公司做U盘就老是ESD过不去,MP3更多是一枪毙命,可怜啊.U盘的还好些,会打了后重新复位.奇怪的是,同样的几个样品,同一家实验室,不同的时间去测试,居然后面的这次就pass了,费解.不知道大虾知不知道怎么解释这种现象呢?和实验室的外围环境有关吗?
发表于 2008-7-4 17:50:31 | 显示全部楼层
引用第8楼学海无涯2008-06-13 15:55发表的“”:
学习了,我们公司做U盘就老是ESD过不去,MP3更多是一枪毙命,可怜啊.U盘的还好些,会打了后重新复位.奇怪的是,同样的几个样品,同一家实验室,不同的时间去测试,居然后面的这次就pass了,费解.不知道大虾知不知道怎么解释这种现象呢?和实验室的外围环境有关吗?

一.人的问题.
              选择静电点和放电手法有差异.
二.产品问题.
              U盘8KV放电的确会有差异.但产品还是有问题.
三.PC(或PC接地不好)不好会引起打静电重新启动的现象.
发表于 2008-7-11 19:56:29 | 显示全部楼层
引用第5楼tussock_man2007-12-27 10:51发表的“”:
我觉得测试结果不稳定,首先要确定测试方法是正确的,对同一个放电点,正负电压各10次,统计这10次出现的故障。如果确实有问题的话就要观注电是从哪里打进去了,再着手处理,比如换个ESD电压更高的防护TVS、外壳接地、检查搭接等等。具体的可以看这篇文章:《电子产品的静电放电对策及设计要点》,是赛宝一个高工写的。本想上传上来,可惜是新人,上传不了。你上网搜一下,应该能下载到的。
现在好像接触要打25次

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