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楼主: sanmao

EMI 测试超标,各位大牛帮我看看能怎么整改

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发表于 2008-4-13 14:25:22 | 显示全部楼层
收获很多。
发表于 2008-4-14 10:09:43 | 显示全部楼层
1.在晶振的两只脚,接两只脚接地, 如果是圆柱的,换成49us 的封装比较好点
发表于 2008-4-17 11:28:43 | 显示全部楼层
加上铁壳效果更差,肯定是铁壳变成了天线。说明铁壳与单板地接触不好,增加接地点。
这个肯定不是晶振产生的辐射,一般到7、9倍频以后能量就已经很弱了。晶振如果是给时钟倍频用,就要在时钟芯片处看看布线,滤波是否可以改善,平面参考也要注意完整。
如果晶振直接给主芯片使用,那就是芯片的走线,参考平面,电源滤波方面有问题。
同时也要看看是否单板上面有很长的stub走线
改善加磁珠,电容都是可以尝试的,并不一定就一定不能用磁珠,楼上的版主太偏激了
EMC关键还是在于实践,呵呵
发表于 2008-4-22 11:10:55 | 显示全部楼层
有一定的道理
发表于 2008-4-29 12:01:34 | 显示全部楼层
有必要进行, EMC基础培训. 并要, 该电子工程师看高频, 天线,  电磁场. 不要看计算(快点)。看结论, 实验。

不过, 此问题应不难解决。
发表于 2008-4-29 14:46:24 | 显示全部楼层
我觉得是外壳造成天线效应,使得辐射比较强
发表于 2008-5-7 10:31:52 | 显示全部楼层
引用第9楼potter2008-03-25 16:15发表的“”:
从你测试的波形图来看,你这都是单支,而且用的所描述的超标点去计算,应该是晶振的8/16/18倍频点,这样可以基本判定为串扰所造成的,并不是晶振所造成的,既使你在晶振的上去修改也不能用磁珠哟,用磁珠的话会让你的信号在某一时段有异常情况了生,你把说的接的CASE还更差,请你把你的地他割的地方用电容或都用电阻连起来再加CASE测试看看。

分析的有道理,以前我司的产品也遇到过类似的问题,后来就是用这种方法解决的。
发表于 2008-6-3 16:10:59 | 显示全部楼层
鐵殼變成天線是很有可能的
鐵殼要是想成為屏避 必須與訊號源隔離
但是訊號源太強的話  還是有可能從空氣中傳到鐵殼 再輻射出去
這樣的話 無解  不然用訊號小一點的25M

首先先確認各個地的連續性
有沒有被孤立 尤其是DC跟GND假如設計為同一訊號源的參考地時
必須有電容相連 且為最短路徑連續
再來找其他會成為天線的東西
发表于 2008-6-7 10:11:05 | 显示全部楼层
为了解决你的问题,
如果你不介意的话,
我希望你将你的电路板pcb图小部分发给大家讨论,
这样方能对症下药,不 然也是各自建议!
发表于 2008-6-9 17:29:47 | 显示全部楼层
[s:9]  [s:9] 本人菜鸟,对EMC还了解不多,有那为大师解释一下,EMI测试的峰峰值和平均值,为何用两中表示,到地以那种为准?EMI测试的详细读图方法,有哪位大师能讲一下吗?感激不尽!

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